May 5, 2007 08:42
17 yrs ago
английский term
Contact-mode atomic force microscopy
английский => русский
Медицина
Медицина: Стоматология
tests
Determination of CaP Crystal Shear Strength Using "Contact-Mode Atomic Force Microscopy (AFM)"
The contact-mode AFM analysis uses a nanometer length scale silica nitride (SiN) calibrated beam with a diamond coated probe (or tip).
The analysis is initiated by placing the probe on a discrete particle. For shear strength and compressive strength analysis, the probe is moved tangential and normal to the surface on which the crystal is adhered to. The beam displacement is slowly increased until the displacement load dislodges the particle. The force value is derived using beam mechanics (i.e., x force is required to create a beam displacement y).
Кто-нибудь знает, как это правильно переводится на русский язык?
The contact-mode AFM analysis uses a nanometer length scale silica nitride (SiN) calibrated beam with a diamond coated probe (or tip).
The analysis is initiated by placing the probe on a discrete particle. For shear strength and compressive strength analysis, the probe is moved tangential and normal to the surface on which the crystal is adhered to. The beam displacement is slowly increased until the displacement load dislodges the particle. The force value is derived using beam mechanics (i.e., x force is required to create a beam displacement y).
Кто-нибудь знает, как это правильно переводится на русский язык?
Proposed translations
(русский)
4 -1 | [с использованием] атомно-силового микроскопа | Alexander Onishko |
Change log
May 5, 2007 08:43: Jack Doughty changed "Language pair" from "русский => английский" to "английский => русский"
Proposed translations
-1
12 мин
Selected
[с использованием] атомно-силового микроскопа
"контактный" можно не гововрить - это подразумевается
===
Атомно-силовой микроскоп был изобретён в 1986 году Герхардом Биннигом, Калвином Куэйтом и ... Рис.1 Атомная структура поверхности высокоориентированного ...
www.nanoscopy.org/tutorial/Afm/afm.htm
===
Атомно-силовой микроскоп был изобретён в 1986 году Герхардом Биннигом, Калвином Куэйтом и ... Рис.1 Атомная структура поверхности высокоориентированного ...
www.nanoscopy.org/tutorial/Afm/afm.htm
Peer comment(s):
disagree |
Natalie
: Как раз ничего не "подразумевается". Сказать о том, что в контактном режиме необходимо, потому что есть еще модуляционный, бесконтактный и полуконтактный режимы
1 дн 41 мин
|
4 KudoZ points awarded for this answer.
Comment: "Большое спасибо!"
Discussion